爾電流傳感器測試 

    在霍爾電流傳感器的研發(fā)、使用過程中，對器件的   響應(yīng)速度、線性度、精度等特性的測量尤為重要，對確保器件性能穩(wěn)定、可靠工作，以及指導(dǎo)器件選型使用具有重要意義。 

    線性度：輸出信號（副邊電流IS）與輸入信號（原邊電流IP）在測量范圍內(nèi)成正比的程度。比如電流40A的  時(shí)候輸出4V(或50mA),則在電流為20A時(shí),輸出應(yīng)該為   2V(或25mA),這些都是理想值,實(shí)際輸出會有些偏差, 偏差值和理想值的比值就是線性誤差,線性誤差值越小,檢測精度就越高,電流傳感器的線性度就是通  過線性誤差來表示。

   精度：電流傳感器測試值與真實(shí)值的偏離程度。電 流傳感器精度測試取決于器件本身的性能，也與用于 標(biāo)定的標(biāo)準(zhǔn)測試源的精度有很大關(guān)系。 響應(yīng)時(shí)間：輸出信號的上升時(shí)間和實(shí)際信號的上升時(shí)間有會有一個(gè)延遲，這個(gè)延遲就叫響應(yīng)時(shí)間，也就 是輸出信號（副邊電流IS）與輸入信號（原邊電流IP）的時(shí)間差。 

    溫度漂移：當(dāng)電流傳感器工作環(huán)境溫度變化時(shí)，其 輸出測試值會因此產(chǎn)生偏差。測量器件在不同溫度下的穩(wěn)定輸出性能，對使用具有重要的指導(dǎo)意義。 

    響應(yīng)帶寬：在指定的幅值輸入信號和特定頻率下， 電流傳感器的輸出幅值會衰減至指定比例值，一般為 -1dB或者-3dB。一般而言，電流傳感器的輸出響應(yīng)信 號，會隨著原邊電流值以及頻率增加，而出現(xiàn)的衰減的 現(xiàn)象。

圖：  線性度測試曲線

圖：  響應(yīng)時(shí)間測試曲線

普賽斯電流傳感器測試解決方案 

CTMS電流傳感器測試系統(tǒng) 

 普賽斯CTMS電流傳感器測試系統(tǒng)，可用于精準(zhǔn)測   量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾 森線圈等）的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，單臺大電流源電流可高 達(dá)1000A。測試參數(shù)包括：直流參數(shù)如溫度漂移、零點(diǎn)    誤差、線性度等，和交流參數(shù)如響應(yīng)時(shí)間、帶寬、噪聲頻譜等。 CTMS電流傳感器測試系統(tǒng)總體上包括：測試設(shè) 備、上位機(jī)控制系統(tǒng)、測試夾具等。其中測試設(shè)備主要包括直流大電流源設(shè)備、階躍脈沖電流源設(shè)備、寬頻帶 大電流源設(shè)備、頻譜儀、示波器、電流方向切換裝置、環(huán) 境溫度模擬裝置、傳感器供電裝置、數(shù)據(jù)采集裝置等。上位機(jī)控制系統(tǒng)主要包括對儀器的控制、數(shù)據(jù)自動采集、自動保存、數(shù)據(jù)的生成等功能模塊以及測試界面的設(shè)計(jì)。

圖：  普賽斯CTMS電流傳感器測試系統(tǒng)

零點(diǎn)、靈敏度、線性度測試 

  在標(biāo)準(zhǔn)供電以及環(huán)境溫度條件下，參照電流傳感器的量程，按照10%步進(jìn)為一個(gè)測試點(diǎn)（或者根據(jù)客戶  指定電流步進(jìn)）測量傳感器輸出信號。

響應(yīng)時(shí)間測試

  在標(biāo)準(zhǔn)供電以及環(huán)境溫度條件下，電流傳感器在  額定原邊電流值時(shí)的輸出響應(yīng)時(shí)間。對于閉環(huán)霍爾電  流傳感器，響應(yīng)時(shí)間一般為μs級別。因此，這就要求用 于測試的原邊電流輸出源，能夠具有快速電流輸出能   力。此外，搭建電路時(shí)一定要將用于測試原邊電流信號  與電流傳感器輸出信號的探頭均接入示波器，保證同布采集信號。

溫度漂移測試

  溫度下的輸出信號特征曲線。在標(biāo)準(zhǔn)供電條件下，測試電流傳感器在不同環(huán)境溫度下的輸出信特征曲線。

頻率帶寬測試 

  在標(biāo)準(zhǔn)供電以及環(huán)境溫度條件下，測試電流傳感器在不同頻率帶寬正弦波的電流傳感器輸出信號響應(yīng)特征曲線。

大電流脈沖電源HCPL100 

  普賽斯大電流脈沖電源HCPL100是武漢普賽斯打   造的大電流、高精度、寬測量范圍的專用測試電源，具 有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（15μS）、支持輸    出極性切換等特點(diǎn)。

夾具 

 針對不同的封裝形式，設(shè)計(jì)了不同的固定夾具，可   滿足常規(guī)封裝的測試，如QFN、SOIC、SOICW、PFF、  PSF及穿芯式。